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BX53P偏光測量顯微鏡使用UIS2校正光學系統和光學設計組合的BX53-P偏光顯微鏡在偏光應用時提供了性能?？蓴U展的補償器使BX53-P有足夠多的功能來處理任何相關領域中的觀察和測量應用。
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BX53P偏光測量顯微鏡校正UIS2光學系統防止了光學顯微鏡性能的降低，消除了對顯微鏡光學放大倍數的影響，即使在光路中插入偏光元件，比如起偏振片、色板或補償器。在保持高水平系統靈活性的同時，BX53-P也兼容BX3系列系統顯微鏡的中間附件，以及相機和成像系統。
BX53P偏光測量顯微鏡ABX53-P偏光顯微鏡在起偏振片和檢偏振片里配備了高EF值濾色片，提供了的圖像對比度。為滿足研究和應用的多樣化要求，萬能型UPLFLN-P系列物鏡采用了適用于多種觀察方法的設計，包括Nomarski DIC和熒光顯微鏡觀察以及偏光觀察。
* EF（衰減系數）是平行和交叉偏光濾色片之間的亮度比。EF值越高，消光效果就越好。
BX53-P顯微鏡可以使用6種不同的補償器，能夠測量多種水平延遲，范圍從0到20λ。為使測量更容易，還提供了直接讀數法。使用Senarmont*或Brace-Koehler補償器可以獲得圖像對比度，以改變整個視野里的延遲水平。
* 與綠色濾色片IF 546或IF 550。
使用U-CPA錐光鏡觀察附件后，正交偏光和錐光鏡觀察之間的切換簡單而快捷。錐光鏡成像的聚焦輕松而準確。透鏡視場光闌的使用使其可以持續獲取銳利而清晰的錐光圖像。
旋轉載物臺安裝的旋轉對中裝置能夠順暢地旋轉標本。此外，為了實施準確測量，每隔45度就有一個咔噠停止裝置。如果增加了雙機械載物臺，還可以進一步完成X-Y的微小移動。
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